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計量校準控制圖異常主要表現形式可以分為儀器校正測量點超出控制界限和測量點的分布不隨機。現行的國際標準（ISO0 8258: 1991）和國家標準(GB/T 4091-2001)總結了常見的測量過程異常的8種分布模式，從而給出了對應的8種異常判據。

如果平均值控制圖出現異常，則表明測量過程受到不受控的系統(tǒng)效應的影響。而若標準
偏差控制圖出現異常，則表明測量過程受到不受控的隨機效應的影響。
      下面介紹常見的8種控制圖異常檢驗模式。在采用控制圖進行儀器校準測量過程控制時，需要指出，計量校驗測量結果除了會受到測量過程的影響之外，還會受到被測對象的影響。因此，如果能找到一個比較穩(wěn)定的核查標準并對其進行連續(xù)的定期觀測，根據由定期觀測結果計算得到的統(tǒng)計控制量（例如平均值、標準偏差或極差）的變化情況，可以推斷出測量過程是否處于統(tǒng)計 控制狀態(tài)，因此，采用調節(jié)控制圖方法的前提是需要一個量值穩(wěn)定的核查標準。申請計量標準考核的單位應盡可能尋找量值穩(wěn)定的核查標準。如果實在找不到量值穩(wěn)定的核查標準，便不可能采用制圖方法對其測量過程進行連續(xù)和長期的統(tǒng)計控制。在高頻和微波功率計量中，熱敏阻座是一種穩(wěn)定的核在標準．